Ключевые слова: LTS, NbN, NbTi, films, design parameters, measurement technique, microwave devices, penetration depth, temperature dependence
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.